Servicio de Microscopía de Fuerzas Atómicas

Datos del servicio
Localización del Servicio:
Facultad de Química Campus de Anchieta 38206 La Laguna.
Horario: De Lunes a Viernes de 9:00 a 15:00.
Teléfono: 922 318021
smfasegai@ull.es

Responsable del Servicio:
Alberto Hernández Creus
ahcreus@ull.es

Becarios

Gara Luis González

Descripción del Servicio

La Microscopía de Fuerzas Atómicas, AFM, es una técnica para la caracterización de la superficie de materiales con resolución inferior a 100 nanometros. En muestras especialmente planas la resolución llega a ser subnanométrica. La Microscopía de Fuerzas Atómicas junto con la Microscopía de Efecto Túnel, STM, forman parte de las llamadas Nanoscopías. Se trata de todo un grupo de técnicas, instrumentos y procedimientos dirigidos a caracterizar la materia a la escala del nanómetro.

 

General


AFM Nanoscope V Multimode de la casa DIGITAL INSTRUMENT (Santa Bárbara, California) es un equipo que permite obtener imágenes tridimensionales en la escala nanométrica y en tiempo real de la superficie de todo tipo de materiales tanto al aire, como en líquidos o bajo atmósfera controlada e incluso a distintas temperaturas. Se dispone de las modalidades denominadas modo contacto y modo no contacto (tapping mode o resonante) y modo PeakForce. El equipo resuelve la topografía en 3D de las superficies y puede operar bajo diversas modalidades tales como AFM magnético, AFM conductivo, AFM de fuerzas laterales (fricción), AFM de fuerzas eléctricas, AFM de potencial de superficie (función trabajo) y AFM para propiedades nanomecánicas tales como Modulo de elasticidad (Young), adhesión y deformación, entre otros.


Aplicaciones


Metales, semiconductores, aislantes, vidrios, cerámicos, plásticos, materiales poliméricos y en general materiales orgánicos, inorgánicos o incluso biológicos que pueden estar, o no, depositados sobre otros sustratos. En ciertas condiciones es posible la obtención de imágenes en medios líquidos. Así mismo, mediante la llamada técnica de contraste de fase, es posible la caracterización de algunas propiedades de materiales como por ejemplo detección de dominios magnéticos, zonas de distinta dureza o de diferente composición. El equipo incorpora, además, la microscopía de Efecto Túnel, STM, de muy alta resolución, aplicable sólo a muestras eléctricamente conductoras o al menos no aislantes.


Financiación

La infraestructura de este servicio ha sido parcialmente financiada por el Fondo Europeo de Desarrollo Regional (FEDER).
Número de proyecto: UNLL03-23-017
Número de proyecto: UNLL08-3E-003

Equipamiento:


  • AFM Nanoscope V Multimode DIGITAL INSTRUMENT (Santa Bárbara, California)  


  • Normas de Uso
    Normas de uso

    Impresos de Uso
    Impreso de uso 1

    Tarifas
    Lista de precios




    Atrás





    Universidad de La Laguna - SEGAI (Servicio General de Apoyo a la Investigación)

    Para cualquier incidencia con la aplicación, póngase en contacto con la atención al usuario

    valid-rss w3html w3html